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镀层测厚仪M1
型    号:M1 MISTRAL
所属分类:X-ray镀层测厚仪
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M1 MISTRAL 是一款紧凑型的台式 µ-XRF 光谱仪,用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、极具成本效益, 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。

镀层测厚仪M1产品概述:

 

M1 MISTRAL 紧凑型台式μ-XRF光谱仪

M1 MISTRAL 是采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品经行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)以上的所有元素。分析的样品类型:各类不同的材料,如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品。

样品尺寸zui大可达100×100×100mm,无需任何处理,直接放在样品台上检测。

光管位于样品上方,测量过程中不接触样品,因此可以很容易地分析复杂式样的样品,如精工细作的珠宝或不同厚度的样品。

M1 MISTRAL的应用领域很广,我们选择常见的例子进行介绍。

测量镀层样品:

采用X射线荧光技术的M1 MISTRAL可以分析薄镀层样品,如印刷电路板、金属或塑料件,包括单层镀层和多层镀层。XSpect软件采用无标样基本参数法,可以同时计算镀层厚度和镀层组成。使用标准样品可以进一步提高定量分析的准确性

测定镀层样品厚度及成分例如

Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Sn-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pd-Ni-Cu

珠宝及合金分析:

M1 MISTRA是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金、铂族金属及银制品。不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K(开)表示。


 

 

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