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产品图片 产品名称/型号 产品描述
  • M1 MISTRAL镀层测厚仪M1
    M1MISTRAL是一款紧凑型的台式µ-XRF光谱仪,用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、极具成本效益,可以提供与材料元素成分有关的准确信息。
  • M4 TRONADO高性能微区X射线荧光光谱仪
    M4TRONADO高性能微区X射线荧光光谱仪分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。采用多导毛细管聚焦镜将激发光聚焦到非常小的区域,以获得极佳的空间分辨率,进行快速分析。任何类型的样品都可以通过简单的样品制备甚至不制备直接进行分析
  • ARTAXARTAX便携式微区 X 射线荧光光谱仪
    ARTAX便携式微区X射线荧光光谱仪 专为对贵重物品和静止物体进行现场分析而设计 ARTAX是*个商业化的便携式微区X射线荧光光谱仪,设计用于满足对独特的和贵重的物品如考古和艺术品进行现场成分分析的需求。 系统可以对Na(11)-U(92)之间的所有元素进行多元素同时分析,空间分辨率可以达到70微米。 测量采用非破坏、非接触式方法,调查过程中不会损害任何物品。30分钟之
  • 大尺寸镀层测厚仪
    开槽台式微区XRF光谱仪M2BLIZZARDM2BLIZZARD是布鲁克公司Z新推出的一款微区X射线荧光光谱仪,依据ASTMB568和DIN/ISO3497,对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。采用开槽设计,非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品,例如大型印刷电路板。该仪器采用全新的、世界L先的XSpectPro软件进行控制。
  • 开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD
    M2BLIZZARD是布鲁克公司Z新推出的一款微区X射线荧光光谱仪,依据ASTMB568和DIN/ISO3497,对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。采用开槽设计,非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品,例如大型印刷电路板。该仪器采用全新的、世界L先的XSpectPro软件进行控制。 PCB分析的理想解决方案

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